มว. ร่วมกับหน่วยงานภาครัฐและเอกชน จัดสัมมนาวิชาการเพื่อถ่ายทอดความรู้ และช่วยสนับสนุนผู้ประกอบการในกลุ่มอุตสาหกรรม และธุรกิจด้านมาตรวิทยา บรรยายนักมาตรวิทยาจากฝ่ายต่างๆ ในหัวข้อ “เทคโนโลยีการวัดเพื่อภาคอุตสาหกรรม” “การใช้วัสดุอ้างอิงเพื่อสร้างความมั่นใจให้กับลการวัดทางเคมี: กรณีศึกษา วิธีการวัดค่าความเป็นกรด-เบส เพื่อให้ได้ผลการวัดที่มีความถูกต้อง” “การพัฒนาระบบมาตรวิทยาสำหรับการสอบเทียบอุปกรณ์ด้าน EMC เพื่อรองรับอุตสาหกรรม 4.0” “หลักการวัดสำหรับนาโนเทคโนโลยี: วัดอย่างไรให้มั่นใจและถูกต้อง” และหัวข้อ “หลักการวัด การทวนสอบและการสอบเทียบมาตรรังสียูวีเอที่ใช้ในอุตสาหกรรม” เพื่อให้ความรู้แก่ผู้เข้าร่วมฟังสัมมนา ณ ศูนย์นิทรรศการและการประชุมไบเทค บางนา กรุงเทพฯ
- อบรม หลักการวัดสำหรับนาโนเทคโนดลยี วัดอย่างไรให้มั่นใจและถูกต้อง บรรยายโดย ดร.จริยา บัวเจริญ หัวหน้ากลุ่มงานมาตรวิทยานาโน ฝ่ายมาตรวิทยามิติ
- อบรม หลักการวัด การทวนสอบและการสอบเทียบมาตรรังสียูวีเอที่ใช้ในอุตสาหกรรม บรรยายโดย คุณพลวัฒน์ จำปาเรือง นักมาตรวิทยา ฝ่ายมาตรวิทยาอุณหภูมิและแสง
- อบรม การใช้วัสดุอ้างอิงเพื่อสร้างความมั่นใจให้กับผลการวัดทางเคมี
- อบรมหัวข้อ เทคโนดลยีการวัดเพื่อภาคอุตสาหกรรม บรรยายโดย ดร.จริยา บัวเจริญ หัวหน้ากลุ่มงานมาตรวิทยานาโน ดร.นรินทรฺ์ จันทวงศ์ ดร.ธรรมรัตน์ สมทอง และนายภาวัต เผือกน้อย
- อบรม การพัฒนาระบบมาตรวิทยาสำหรับการสอบเทียบอุปกรณ์ด้าน EMC เพื่อรองรับอุตสาหกรรม 4.0 บรรยายโดย ดร.ชัยวัฒน์ เจษฎาจินต์
- อบรม การพัฒนาระบบมาตรวิทยาสำหรับการสอบเทียบอุปกรณ์ด้าน EMC เพื่อรองรับอุตสาหกรรม 4.0 บรรยายโดย ดร.ชัยวัฒน์ เจษฎาจินต์ และ ดร.ศริญญา ปะสะกวี นักมาตรวิทยา ฝ่ายมาตรวิทยาไฟฟ้า
- บรรยากาศภายในห้องอบรม
- บรรยากาศภายในห้องอบรม
- บรรยากาศภายในห้องอบรม
- บรรยากาศภายในห้องอบรม










