สถาบันมาตรวิทยาแห่งชาติ (มว.) ร่วมกับศูนย์นาโนเทคโนโลยีแห่งชาติ (นาโนเทค) จัดประชุมเชิงปฏิบัติการในหัวข้อ “High Quality Measurement for Advanced Manufacturing” โดยได้รับเกียรติจากวิทยากรดังนี้ Dr. Wei-En Fu, จาก Center for Measurement Standard (CMS)/ITRI บรรยายหัวข้อ Measurement and Standards for the Developments of Products Quality, Dr. Victoria Coleman จาก National Measurement Institute ประเทศออสเตรเลีย บรรยายหัวข้อ Can on size fit all? Understanding nanoparticle size measurements ดร.จริยา บัวเจริญ หัวหน้ากลุ่มงานมาตรวิทยานาโน ฝ่ายมาตรวิทยามิติ สถาบันมาตรวิทยาแห่งชาติ บรรยายหัวข้อ How interlaboratory comparison improve quality of measurement และ Dr. Wannee Chinsirikul, Executive Director จาก ศูนย์นาโนเทคโนโลยีแห่งชาติ (นาโนเทค) บรรยายหัวข้อ Current Research and Development of Nanometrology at NANOTEC ซึ่งนอกจากการประชุมเชิงปฏิบัติการที่ได้ร่วมกันระหว่าง มว. และ นาโนเทคแล้วยังได้มีการจัดประชุมร่วมกับผู้เข้าร่วมการเปรียบเทียบระหว่างห้องปฏิบัติการ (Inter Lab Comparison) จากทั้งหมด 17 ห้องปฏิบัติการ จาก 7 ประเทศ ได้แก่ สาธารณรัฐอิสลามอิหร่าน สาธารณรัฐอินโดนีเซีย สหพันธรัฐมาเลเซีย สาธารณรัฐจีน(ไต้หวัน) สาธารณรัฐฟิลิปปินส์ สหราชอาณาจักร และประเทศไทย ซึ่งได้ส่งผลการเปรียบเทียบแล้ว Nanoparticles ที่ระบุสำหรับการเปรียบเทียบในครั้งนี้ประกอบด้วย polystyrene latex และ Ti02 (เส้นผ่านศูนย์กลางตั้งแต่ 10 nm – 700 nm) โดยวิธีการวัดเปิดกว้าง ไม่ว่าจะเป็นเทคนิคแบบ Dynamic Light scattering (DLS), Atomic Force Microscopy (AFM), Transmission Electron Microscopy (TEM) and Scanning Electron Microscopy (SEM) การเข้าร่วมการเปรียบเทียบผลการวัดระหว่างห้องปฏิบัติการจะจัดให้มีขึ้นอีกครั้งในงานปี 2562 ณ ศูนย์นาโนเทคโนโลยี-สวทช. จ.ปทุมธานี