สัมมนาด้านมิติ ตามมาตรฐาน JIS ฉบับล่าสุด (19 พฤษภาคม 2565)

สถาบันมาตรวิทยาแห่งชาติ (มว.) ร่วมกับ อินฟอร์มา มาร์เก็ตส์ จัดสัมมนาวิชาการภายใต้หัวข้อ “หลักการและวิธีการสอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดด้านมิติ ตามมาตรฐาน JIS ฉบับล่าสุด” บรรยายให้ความรู้แก่ผู้สนใจโดย ดร.กิตติสัณห์  มงคลสุทธิรัตน์ นักมาตรวิทยา กลุ่มงานมาตรฐานปฐมภูมิความยาว ฝ่ายมาตรวิทยามิติ โดยมีวัตถุประสงค์เพื่อถ่ายทอดความรู้และช่วยสนับสนุนผู้ประกอบการในกลุ่มอุตสาหกรรม และกลุ่มธุรกิจด้านมาตรวิทยาที่สนใจเข้ารับฟังบรรยายให้ได้มีความเข้าใจในการสอบเทียบ Micrometer, Height gauge, Caliper Dial gauge และ Dial test indicator ฉบับล่าสุดแบบกระชับ  รวมทั้งสามารถแยกความแตกต่างของการสอบเทียบ Micrometer, Height gauge, Caliper, Dial gauge และ Dial test indicator ฉบับล่าสุดเปรียบเทียบกลับฉบับก่อนหน้าได้อีกด้วย โดยกิจกรรมการสัมมนาวิชาการดังกล่าว จัดขึ้นในงาน Subcon Thailand 2022 ณ ศูนย์นิทรรศการและการประชุมไบเทค บางนา กรุงเทพฯ