ส่วนฝึกอบรม ฝ่ายนโยบายบายและยุทธศาสตร์ จัดอบรมหัวข้อ “การสอบเทียบ Profile Projector และ Measuring Microscope ตามมาตรฐาน JIS B 7184: 1999 และ 7153:1995” ให้แก่ เจ้าหน้าที่ของบริษัท มาสเตอร์ คาลิเบรชั่น จำกัด บรรยายให้ความรู้โดย ดร.นรินทร์ จันทวงศ์ นักมาตรวิทยาปฏิบัติการ ห้องปฏิบัติการซีเอ็มเอ็มและเกียร์ และ ดร.ยุทธนา หงษ์อารมณ์กิจ นักมาตรวิทยาชำนาญการ ห้องปฏิบัติการระยะขีดสเกล ฝ่ายมาตรวิทยามิติ โดยมีวัตถุประสงค์เพื่อให้ผู้เข้าอบรมสามารถคำนวณค่าความคลาดเคลื่อนของเครื่องมือ คำนวณค่าความไม่แน่นอนของการวัด และได้เรียนรู้วิธีการสอบเทียบ Profile Projector และ Measuring Microscope เพื่อนำไปใช้งานได้อย่างถูกต้อง ณ อาคารผดุงมาตร มว. จ.ปทุมธานี
-
- ดร.นรินทร์ จันทวงศ์ นักมาตรวิทยาปฏิบัติการ ห้องปฏิบัติการซีเอ็มเอ็มและเกียร์ ฝ่ายมาตรวิทยามิติ
-
- ดร.ยุทธนา หงษ์อารมณ์กิจ นักมาตรวิทยาชำนาญการ ห้องปฏิบัติการระยะขีดสเกล ฝ่ายมาตรวิทยามิติ
